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光學薄膜厚度測量儀的四個組成結構
2021-8-20
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光學薄膜厚度測量儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，對板材厚度進行自動控制。光... -
光學3d表面輪廓儀是一種無損測量儀器2021-6-21
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光學3d表面輪廓儀不僅僅是用于零部件的檢測，還有一種可用于生產線上對生產中的軋材表面缺陷進行檢測的設備，它以激光檢測原理完成了缺陷尺寸的在線檢測。光學3d表面輪廓儀通過對被測物進行缺陷檢測，實現了被測物件的在線連續式缺陷檢測，及時的防止帶缺...
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薄膜厚度測量儀由哪些結構組成呢？2021-5-16
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薄膜厚度測量儀又叫膜厚儀、膜厚測試儀、膜厚計或者鍍層測厚儀（比如GT810F、GT810NF、GT8102等），可無損地測量磁性金屬基體（如：鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等），以及非磁性金屬基...
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【優尼康UNICORN】微納級薄膜厚度與表面形貌測量專題講座2021-5-14
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優尼康科技有限公司自2012年成立，一直專注于薄膜厚度與表面輪廓測量領域，為半導體、面板、LED、消費電子、生物醫療等高科技企業和高校及研發中心提供精密測量設備與解決方案。本次講座，優尼康將邀請多位行業專家，結合各行業應用案例，與您探討在微...
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XRF手持式合金分析儀可以使用低功率X射線管分析合金元素2021-4-13
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XRF手持式合金分析儀可以使用低功率X射線管分析合金元素。發射的x射線和返回的x射線都是低功率的，測量時必須使手持式合金分析儀接近樣品。理想的是使樣品進行直接通過接觸手持式合金分析儀的測量窗。如果樣品具有復雜的幾何形狀，則難以檢查，但手持式...
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XRF鍍層測厚儀的測量誤差原因請看下面分析2021-1-19
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XRF鍍層測厚儀的測量誤差原因請看下面分析X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質量（若密度已知...
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